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  • 2021-09-30

  • 2021-09-30

     AE TECHRON 7224配合诚臻电科HMC-900的主要指标

    在国内,很多用户在使用美国AE TECHRON 7224作为磁场抗扰度测试的低频功放,本文说明一下7224与诚臻电科的HMC-900配合时的主要特性指标。 根据AE TECHRON的官方资料:http://www.aetechron.com/7224_ov.shtml 中介绍,AE TECHRON 7224有三种模式,分别是高电压模式、中级模式和高电流模式。高电流模式在0.5欧姆时,可达32A。 根据官方资料给出的电压频率图也可以看到,7224在线圈阻值较低时(蓝色线,1欧姆),在150kHz之前都有非常稳定的输出。 根据诚臻电科的HMC-900的官方资料:http://www.chan-gen.com:86/products/?type=detail&id=7 中介绍,HMC-900的直径是900mm,可长时耐受电流25A以上,每个线圈绕线25圈,阻值0.5欧姆。 根据ISO 11452-8:2007中3.2章节表1中所示,该标准定义的频率范围是15Hz~150kHz。 根据ISO 11452-8:2007中5.2.2章节的规定,H=0.7155*NI/R,其中N是每个线圈的绕线圈数,I是电流值(单位:安培),R是线圈的半径(单位:米)。 如果想要达到1000A/m,则通过线圈的电流I需要达到I=HR/0.7155N=1000*0.45/0.7155*25=25.157A。 可见,当AE TECHRON配合HMC-900使用时,轻松可以达到1000A/m。 根据实测数据显示,AE TECHRON配合HMC-900使用时,可以达到1200A/m,如果短时大电流工作,可以达到更高的磁场场强。 查看更多>

  • 2021-09-30

    低介电常数材料典型应用-RE/RI测试

    为了让您在测试过程中更好的使用诚臻电科出品的低介电常数材料进行测试,此处给出诚臻电科建议的支撑材料使用方式,供参考。 RE/RI测试: 使用材料为LF125,LF225和LF525。 查看更多>

  • 2021-09-30

    低介电常数材料典型应用-BCI测试

    为了让您在测试过程中更好的使用诚臻电科出品的低介电常数材料进行测试,此处给出诚臻电科建议的支撑材料使用方式,供参考。 BCI测试: 使用材料为LF225BCI,LF125BCI-300和LF525。 请注意,根据标准要求,放置在右端的样品到接地平板边沿要有100mm的距离。 1,替代法,线束长度为1700mm: 2,替代法,线束长度为1700mm~2000mm: 3、闭环法,线束长度1000mm: 3、闭环法,线束长度1200mm: 查看更多>

  • 2021-09-30

    国内销售的各类CAN光电隔离系统规格比较表

    目前在国内销售的主流CAN光电隔离系统主要是国内和欧洲的部分品牌,各个品牌进入市场的时间点不同,欧洲产品进入市场时间较早,国内品牌的产品是近一两年才出现的。为了方便用户比较各个品牌之间的差异,诚臻电科对目前在市场上常见品牌对外宣称的高速CAN规格进行了整理和归纳,除OPTO外,其余的信息均来自产品官方网站。 △ 关键技术指标说明: △ 产地和维修地点:决定了该产品的维修周期和相关维修手续的简便程度,地点在国内的一定会比在国外的更便捷。 △ 保修期:决定了该产品未来的维修难度,侧面反映了制造商对产品品质的信心,该指标越长越好。 △ 产品供电方式:与该产品的场强耐受性相关,内置电池的通常要优于外置电源的。 △ 最高传输速率:决定该产品的信号处理能力,有些产品在高速率下会产生严重的数据传输故障。该指标越高越好。 △ 最高耐受场强:决定该产品的抗扰能力,该指标越高越好。 △ 光纤接口:决定了该产品未来在暗室内外的连接方式,通常暗室或者屏蔽的接口板上都会有穿线用的过孔或者FSMA接头,通常接口板上是没有ST接口的,因为其无法满足屏蔽效能测试的要求。绝大部分的汽车电子实验室都尽量使用穿线过孔而不使用FSMA接头,因为: 1、通常接口板上没有太多的FSMA接口; 2、只要通过FSMA接口,就必须要两条光纤行,暗室内外各一条; 3、通过接口对接后,对信号传输质量一定会有影响,对数据传输的稳定性带来不必要的风险。 所以,通常FSMA接口和ST接口不会成为评价设备优劣的元素。 △ 网络阻抗选择:决定了未来实验室使用过程中是否能够兼容所有总线网络。根据ISO 11898要求,高速CAN的系统阻抗是60欧姆,部分主机厂会出现更特殊的阻抗要求,比如66欧姆。这时就需要进行任意阻抗设定。 △ 外壳材料:决定了产品的坚固程度和抗扰能力。金属外壳优于其他材质的外壳。 △ 发射/接收模块互换性:该指标对于内置电池的产品特别重要,对于长时间连续测试的情况,可发射/接收模块可互换可以保证始终有一个模块(即放置在暗室外面的那个模块)在充电,可以不间断测试。比对结果如下表所示: (红色表示没有数据来源说明,绿色表示其指标相比其他品牌同类指标较低。) 表格中的数据来源如下: CHANGEN: http://www.chan-gen.com:86/specs/OPTCANOHA1.pdf PEAK: http://www.peak-system.com/PCAN-LWL.214.0.html?&L=1 EMCTOOLS: http://www.emctools.de/datasheets/Datasheet%20EMCtools%20Canbox.pdf OPTO: http://blog.naver.com/PostView.nhn?blogId=jin_optic&logNo=50140345782&parentCategoryNo=&categoryNo=&viewDate=&isShowPopularPosts =false&from=postView 注:OPTO从标识上看是德国Sontec Electronic的产品,但是在中国大陆地区能够访问的互联网上没有关于SonTec Electronic与OPTO CAN 2000的关联信息,此处给出的网址来自韩国某公司提供的信息,仅供参考。 TESEO: http://www.teseo.net/lang1/files/ds030ab.pdf查看更多>

  • 2021-09-30

    即将发布的新书《电力电子的电磁兼容性》一书中的彩色插图

    即将引进到国内,由ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc联合出版的电磁兼容类书籍《电力电子学中的电磁兼容性》()中有部分彩色插图,此处提供了这些插图的PDF文件,供大家参考。具体内容请参见《电力电子学中的电磁兼容性》一书。 本地下载 注:关于该书的更多介绍请见:http://www.amazon.cn/dp/1848215045查看更多>

  • 2021-09-30

    CISPR 25 ed.4 J.4 参考文献中的论文

    即将发布的最新版CISPR 25 ed.4中的J.4章节里列明了5篇论文,下面是部分文章的下载地址,供您下载参考。 请点击文章名称进行浏览或者点击速度更快。本地下载: 1、THE GROUNDPLANE RESONANCE – PROBLEMS WITH RADIATED EMISSIONS MEASUREMENTS 2697 BELOW 30 MHz Dr Luke Turnbull, 2007 Automotive EMC Conference, Newbury UK. 本地下载 2、 MESSTECHNISCHE UNTERSUCHUNG DES EINFLUSSES DER ERDUNG VON CISPR-25-EMISSIONSMESSPLÄTZEN ”. Alexander Kriz, Wolfgang Müllner, Friedrich-Wilhelm Trautnitz, Jochen Riedelsheimer , Herbert Seitle, Test Kompendium 2004, Messen-Prüfen-Verifizieren, publish-industry Verlag GmbH, München, 2003. (该文章内容为德文书写) 本地下载 3、 AN ACCURATE VALIDATION PROCEDURE FOR COMPONENT TESTING CHAMBERS”. Alexander Kriz, Wolfgang Müllner, Compliance Engineering, 2002 November/December 2002, Page 40-43. 本地下载 4、ANALYSIS OF THE CISPR 25 COMPONENT TEST SETUP”. Alexander Kriz, Wolfgang Müllner, 2003 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC), Istanbul, Turkey. 本地下载 5、Proposal for the Validation of Absorber Lined Shielded Enclosures for CISPR 25 Emission Tests”, Bongartz, Deckers, Heina, Hirsch, Mooser, Nickel, Seiger, IEEE Symposium on EMC, Austin, USA, August, 17th-21st,2009** **:该文章如需浏览需要有IEEE Xplore Digital Library的账号,此处的链接仅为读者提供最便捷的获取文章的路径查看更多>

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